赛多利斯推出新一代Cubis® II大量程微量天平

• 在真实实验室条件下保持卓越的赛多称量性能，测量精度高、利斯量天速度快
• 全新的推出清洁应用程序，使清洁成为合规性和SOP的新代一部分
• 在需要时升级天平的硬件和软件，降低前期投入成本，大量确保投资安全

上海2023年9月1日 /美通社/ -- 国际领先的程微制药和实验室设备供应商赛多利斯中国公司宣布，推出新一代Cubis^®II大量程微量天平。赛多该天平是利斯量天Cubis^®II 高端实验室天平系列的新成员，用于在较大的推出容器中直接称量非常少量的样品。Cubis^®II大量程微量天平凭借其创新的新代设计元素，最大限度地屏蔽环境影响，大量在真实实验室条件下保持卓越的程微称量性能。全新推出的赛多清洁应用程序将天平清洁提升到了一个新高度，使清洁成为合规性和SOP 的利斯量天一部分。同时，推出新的硬件和软件功能可以在需要时进行更高级别的升级，全面实现灵活配置，降低用户的前期投入成本。

第四代超级单体传感器

赛多利斯发明的专利技术——超级单体传感器，作为称重设备的核心部件，直接决定了称量的速度、精度和稳定性。赛多利斯为Cubis^® II大量程微量天平这类超高分辨率天平升级开发了第四代超级单体传感器。得益于新一代称重系统，Cubis^®II大量程微量天平具有更高的质量标准，不仅可以更快地获取称重结果，还可以耐受不同的环境条件。

卓越的重复性精度和准确度

得益于新一代称重系统，Cubis^®II大量程微量天平具有卓越的重复性精度和准确度，可在整个称重范围内保持恒定且较低的最小样品量（根据USP第41章）。较低的最小样品量可以为用户节省宝贵的分析材料，降低样品成本。

新型内置除静电技术

Cubis^®II大量程微量天平配备4个离子喷嘴。离子喷嘴的精妙定位、灵活的设置选项和背部除静电技术，确保除静电过程高效运行，样品被完全去除静电。同时，防风罩的导电涂层可以隔绝防风罩外部的静电影响，从而获得稳定且快速的称量结果。

智能气压补偿技术

气压变化（例如气候变化引起的气压变化）通常会导致称重结果出现偏差，使天平的称量值产生漂移，尤其对于超高分辨率的精密分析仪器，影响尤其显著。赛多利斯首创的智能气压补偿技术，使新一代Cubis^®II大量程微量天平对气压变化具有很强的适应性，始终保持天平的准确度和精度。

全新清洁QApp应用程序

清洁实验室仪器是实验室日常工作的一部分，甚至是验证过程或SOP的一部分。对于实验室天平而言，分辨率越高，由于少量残留物污染而使称重准确度降低的风险就越大，这会直接影响称重结果和样品的质量。Cubis^®II大量程微量天平对硬件和软件设计进行了优化，使高精度天平的清洁变得更加简单、安全和高效。全新的清洁 QApp 应用程序指导用户执行清洁操作，其内置指南使清洁过程变得直观、简便。清洁 QApp还可以在审计追踪中追踪清洁过程，并通过用户管理进行配置，支持包含电子签名的文档。清洁 QApp使清洁成为合规性和SOP的一部分。

硬件和软件均可升级

新的软件和硬件功能可以在用户需要时进行更高级别的升级，实现全面的灵活性。同时，降低实验室前期投入成本，确保投资安全。

此外，Cubis^®II大量程微量天平秉承了Cubis II 系列天平的模块化设计、连接性、合规性、数据管理以及强大的应用软件等优势，让实验室称量工作更加简单。

了解更多关于Cubis^®II大量程微量天平的信息，

请访问https://www.sartorius.com.cn/products/weighing/laboratory-balances/cubis-ii

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